低本底高靈敏度Sm-Nd同位素分析方法對石榴子石Sm-Nd定年、隕石Sm-Nd年代學及地球化學、高度虧損超鎂鐵巖Sm-Nd同位素研究以及環(huán)境樣品Sm-Nd同位素地球化學研究等領域具有重要的意義。
中國科學院地質(zhì)與地球物理研究所科技支撐系統(tǒng)儲著銀副研究員及其合作者，利用固體同位素實驗室IsoProbe-T質(zhì)譜計，采用W燈絲和TaF5發(fā)射劑的涂樣技術(shù)建立了一種新的高靈敏度Sm-Nd同位素分析方法。W燈絲和TaF5發(fā)射劑涂樣技術(shù)通常被應用于低含量樣品或微量樣品的Sr同位素高精度分析，儲著銀等首次將該涂樣技術(shù)應用于Sm-Nd同位素分析。其中，Nd同位素采用測定NdO+離子的方法進行測定，較傳統(tǒng)的采用Re帶+硅膠+磷酸的涂樣技術(shù)的NdO+測定方法具有更高的離子發(fā)射效率及更穩(wěn)定的離子流發(fā)射，同時不需要給離子源加氧;Sm同位素采用測定Sm+離子的方法進行測定，較傳統(tǒng)的Re帶點樣方法，靈敏度和離子流穩(wěn)定性均有大幅度的提高。采用該方法可對低至0.5-1ng的Nd獲得高精度(內(nèi)部精度可達<10ppm)的同位素分析數(shù)據(jù)，可對低于0.2ng的Sm獲得精確的同位素稀釋分析結(jié)果。結(jié)合低本底的Sm-Nd同位素化學分離流程，可對低含量或微量地質(zhì)樣品進行高精度的Sm-Nd同位素分析。
該分析方法最近已發(fā)表于國際著名的分析化學刊物《分析原子光譜學雜志》(Journal of Analytical Atomic Spectrometry)(2008IF: 4.03)(Chu et al. Precise determination of Sm, Nd concentrations and Nd isotopic compositions at the nanogram level in geological samples by thermal ionization mass spectrometry. Journal of Analytical Atomic Spectrometry，2009, 24: 1534-1544)。該方法的建立將為超鎂鐵巖Sm-Nd同位素研究、石榴子石Sm-Nd定年、隕石Sm-Nd同位素研究及古海水Sm-Nd同位素研究等提供新的研究手段。