掃描電鏡(SEM)主要應(yīng)用于各種材料的形貌、組織觀察，包括：有機材料、非均相催化劑材料、高分子材料、生物材料、無機材料、金屬材料和各種復(fù)合材料等。
主要特點及技術(shù)參數(shù)：
- 全數(shù)字化控制系統(tǒng)，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統(tǒng)，高真空模式可達3.0 nm，低真空模式可達4.0 nm；
- 放大倍數(shù) ×5～×300,000；
- 加速電壓0.5 kV至30 kV，既保證高電壓下的高分辨率，也可提供低電壓下高質(zhì)量的圖像；
- 全自動真空控制系統(tǒng)，高、低真空切換，低真空度1 to 270 Pa，
低真空模式下可以觀察到高真空下無法觀察的含水樣品或非導體樣品；
- 全自動電子槍，高靈敏度半導體背散射探頭；
- Smile Shot™軟件保證得到最佳電子光學參數(shù)，簡易的圖像分析及輸出。
