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關(guān)鍵詞: |
BiB3O6晶體 缺陷 同步輻射白光形貌術(shù) |
資料大?。?/td>
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所屬學(xué)科: |
結(jié)構(gòu)表征 |
來(lái)源: |
來(lái)源網(wǎng)絡(luò) |
簡(jiǎn)介: |
利用同步輻射白光形貌術(shù)和透射電子顯微鏡,對(duì)BiB3O6晶體的缺陷進(jìn)行研究??拷丫Р课唬梢杂^察到包藏、位錯(cuò)和生長(zhǎng)扇面邊界,而遠(yuǎn)離籽晶的位置,沒有發(fā)現(xiàn)任何微觀的缺陷。通過(guò)實(shí)驗(yàn)觀察,孿晶和生長(zhǎng)扇面邊界可能是導(dǎo)致晶體中褐色區(qū)域的形成原因。提出了消除缺陷的方法。 |
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上傳人: |
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上傳時(shí)間: |
2007-07-17 16:23:34 |
下載次數(shù): |
574 |
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2
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