作為最弱的非共價(jià)鍵作用之一,范德華力普遍存在于分子之間,對(duì)納米結(jié)構(gòu)有重要的影響。雖然在近幾十年內(nèi),表面-表面(或?qū)?層)之間的范德華力已經(jīng)被成功測量,然而單分子層次上的范德華力測量依然非常困難。首先,單個(gè)小分子的尺寸太小,不易捕捉和操縱;其次,范德華力的作用距離又非常短(通常小于1 nm),這都給單分子層次上的范德華力的測量增加了難度。
西南交通大學(xué)崔樹勛教授課題組最近在這一研究領(lǐng)域取得了突破。他們利用單分子力譜技術(shù),在高真空環(huán)境中成功探測了單個(gè)高分子重復(fù)單元和固體表面的范德華力。通過將小分子串成一串(即高分子鏈)作為目標(biāo)分子,可以有效地增加力信號(hào)的持續(xù)時(shí)間;高真空環(huán)境可以排除溶劑以及表面吸附水對(duì)力探測的干擾,大大簡化了被操縱分子的受力分析。
圖1. (a)高真空中測量高分子重復(fù)單元與固體表面范德華力示意圖;(b)重復(fù)單元尺寸不同的高分子在不同的固體表面上的脫附力(范德華力)力值。藍(lán)色:聚(N,N-乙基甲基丙烯酰胺),PEMA;紅色:聚(2,3-二氫呋喃),PDHF。
通過選用適當(dāng)?shù)母叻肿雍凸腆w表面,使得分子-表面之間只能形成范德華力作用。高真空條件下,高分子會(huì)以平躺構(gòu)象吸附在固體表面。當(dāng)把高分子鏈從表面上揭起來時(shí),其重復(fù)單元會(huì)依次脫附。由于均聚物上每個(gè)重復(fù)單元的脫附力一致,因此可以得到恒定的脫附力平臺(tái),進(jìn)而可以推算出單個(gè)重復(fù)單元和基底之間的范德華力(圖1)。
實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,高分子每個(gè)單體與基底表面的范德華力在21~54 pN之間,而且力值與固體表面的性質(zhì)以及高分子的重復(fù)單元尺寸均有關(guān)。對(duì)于具有更大哈梅克常數(shù)(Hamaker constant)的固體表面,分子-表面之間的范德華勢能更大,因此范德華力更強(qiáng);對(duì)于具有更大尺寸的高分子重復(fù)單元,由于范德華力具有可加和性,分子-表面之間的范德華力也會(huì)更強(qiáng)。這些實(shí)驗(yàn)結(jié)果得到了理論計(jì)算的支持。本研究采用的實(shí)驗(yàn)方法有望用于在單分子層次上探測其他類型的非共價(jià)鍵作用(如氫鍵、π-π作用等)。
相關(guān)成果以“Detecting van der Waals forces between a single polymer repeating unit and a solid surface in high vacuum”為題發(fā)表于Nano Research 2018, DOI:10.1007/s12274-018-2176-8。論文的第一作者為蔡皖豪博士生,通訊作者為崔樹勛教授。
論文鏈接:
https://link.springer.com/article/10.1007/s12274-018-2176-8
http://www.thenanoresearch.com/work_asap.asp
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