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《Nat. Commun. 》:采用快速掃描量熱法直接觀察聚合物長(zhǎng)鏈熔體在固體表面的解吸附
2020-09-03  來(lái)源:高分子科技

  把玻璃態(tài)聚合物放置在固體表面上,加熱到其玻璃化轉(zhuǎn)變溫度以上退火處理,可在固體表面上形成吸附層。但是,在常規(guī)的升溫實(shí)驗(yàn)中,聚合物在解吸附之前就受熱降解了,所以目前為止人們尚不清楚當(dāng)被吸附的聚合物層加熱到較高溫度時(shí),是否會(huì)從基底上解吸,并恢復(fù)到吸附前的界面熱力學(xué)狀態(tài)。近日,來(lái)自比利時(shí)布魯塞爾自由大學(xué)的Simone Napolitano和西班牙Donostia國(guó)際物理中心的Daniele Cangialosi等人發(fā)現(xiàn),采用快速掃描量熱法(FSC)以10000 K s -1的速率加熱被吸附的聚合物層,能夠直接觀察聚合物熔體在固體表面的解吸附現(xiàn)象。FSC具有超快升降溫掃描速率,可在較小時(shí)間窗口內(nèi)避免聚合物的降解,為聚合物熔體解吸提供了明確的實(shí)驗(yàn)證據(jù)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明解吸焓變與退火溫度無(wú)關(guān),吸附/解吸是類似于結(jié)晶/熔融的一級(jí)熱力學(xué)轉(zhuǎn)變。相關(guān)論文以題為“Direct observation of desorption of a melt of long polymer chains”發(fā)表在Nature Communications上。


1、背景介紹

  吸附是影響各類界面性質(zhì)的普遍現(xiàn)象,其中,對(duì)于聚合物來(lái)說(shuō),被吸附的鏈數(shù)目和材料性能之間有一系列的相關(guān)性,使得人們對(duì)聚合物層的吸附產(chǎn)生了極大的興趣。吸附在單體水平是可逆的,但是由于在長(zhǎng)鏈聚合物中不太可能發(fā)生大量吸附鏈單元的同時(shí)脫離,整個(gè)鏈的解吸能量壁壘非常大,所以從動(dòng)力學(xué)角度看長(zhǎng)鏈聚合物的吸附是不可逆的。


  有研究表明吸附過(guò)程是由未吸附的本體聚合物熔體向緊密吸附層的相轉(zhuǎn)變,這個(gè)由熱力學(xué)驅(qū)動(dòng)的轉(zhuǎn)變會(huì)同時(shí)降低體系的焓和熵。隨著溫度的升高,預(yù)期更大的熵效應(yīng)將使聚合物吸附層和未吸附的本體兩相的自由能相等,使得聚合物鏈從固體基質(zhì)上解吸。然而,以常規(guī)速率(約1-10 K min -1)加熱的聚合物通常在解吸之前即發(fā)生熱降解,所以迄今人們?nèi)圆磺宄酆衔锶垠w從固體基質(zhì)上解吸的具體機(jī)制。


  因此,本文的研究者采用快速掃描量熱法(FSC)來(lái)解決這個(gè)問(wèn)題。該方法能夠在10000 K s -1的升溫速率下測(cè)量聚合物薄膜的熱響應(yīng),使得聚合物處于高溫的時(shí)間極短而來(lái)不及降解,從而得以觀察到高溫下聚合物吸附層的解吸。


2、材料與方法

  研究者所采用的FSC設(shè)備是由瑞士Mettler Toledo公司研發(fā)的商用閃速差示掃描量熱儀Flash DSC 1。該儀器采用了芯片量熱技術(shù),具有所需樣品量小、升降溫速率快的優(yōu)點(diǎn),可實(shí)現(xiàn)微納米尺度上的樣品測(cè)試。該儀器還配備了機(jī)械制冷機(jī),可實(shí)現(xiàn)在183K至773 K較寬溫度區(qū)間內(nèi)的熱響應(yīng)測(cè)試。


  首先,將聚合物溶液直接旋涂在FSC氧化硅芯片的背面,制備厚度為40到80 nm的聚(4-叔丁基苯乙烯)薄膜和厚度為60至90nm的聚苯乙烯薄膜。然后在743 K下加熱10 s,以消除旋涂引起的熱歷史。接下來(lái)將樣品在443至473 K之間以5 K的溫度梯度進(jìn)行退火,使聚合物薄膜吸附在基板上。隨后以10000 K s -1的速率升溫,采集加熱過(guò)程中的熱流曲線并觀察解吸信號(hào)。


3、結(jié)果

3.1 聚合物薄膜在快速升溫下的熱信號(hào)


圖1  a. FSC升溫掃描結(jié)果。b.解吸焓變和解吸溫度對(duì)退火溫度和薄膜厚度的依賴性


  如圖1a所示,藍(lán)色線為聚(4-叔丁基苯乙烯)薄膜消除熱歷史后的第一次升溫曲線,該曲線在約440 K處出現(xiàn)玻璃化轉(zhuǎn)變臺(tái)階。隨后對(duì)樣品進(jìn)行玻璃化溫度以上的退火,再次升溫掃描得到圖中紅色線,與藍(lán)色線相比,該曲線在660K左右出現(xiàn)吸熱峰。為了驗(yàn)證該吸熱峰為加熱過(guò)程中的解吸峰,再次將樣品冷卻后緊接著進(jìn)行第三次升溫,得到圖中與藍(lán)色線基本重疊的綠色線,這可證明在第二次加熱過(guò)程中發(fā)生了解吸,使得薄膜恢復(fù)至未吸附狀態(tài)。對(duì)紅色線上660 K處的吸熱峰進(jìn)行面積積分可量化解吸焓變。由圖1b可知,解吸焓變和解吸溫度不隨退火溫度的改變而改變。當(dāng)膜厚在40至80 nm之間變化時(shí),膜厚對(duì)解吸焓變和解吸溫度的影響也不明顯。


3.2 通過(guò)解吸實(shí)驗(yàn)研究吸附動(dòng)力學(xué)


圖2  經(jīng)歷不同退火時(shí)間后的FSC升溫掃描結(jié)果


  圖2顯示了在458 K退火不同時(shí)間后的解吸信號(hào)變化。之前的一組實(shí)驗(yàn)已經(jīng)指出,將樣品快速加熱到743 K的過(guò)程中會(huì)使吸附的鏈解吸,所以圖2中每次升溫觀察到的解吸峰面積積分可以表征對(duì)應(yīng)條件下的解吸焓變,它也對(duì)應(yīng)著被吸附的聚合物鏈數(shù)目。于是,研究者將這組實(shí)驗(yàn)所測(cè)得的解吸焓變隨退火時(shí)間的變化用于研究吸附動(dòng)力學(xué)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,解吸焓變隨退火時(shí)間呈對(duì)數(shù)增長(zhǎng)關(guān)系。


4、討論與展望

圖3  吸附/解吸過(guò)程與結(jié)晶/熔融的類比示意圖


  FSC技術(shù)較高的時(shí)間和熱流分辨率使人們得以在合適的時(shí)間窗口觀察到聚合物熔體的解吸。該研究在進(jìn)一步的分析論證中將吸附/解吸過(guò)程類比于結(jié)晶/熔融過(guò)程,認(rèn)為二者均可視為一級(jí)熱力學(xué)轉(zhuǎn)變,如圖3所示。此外,本研究還探討了吸附/解吸過(guò)程中焓變的來(lái)源和吸附動(dòng)力學(xué)的溫度依賴性,有望促進(jìn)聚合物熔體吸附/解吸理論框架的發(fā)展。


  原文鏈接:Monnier, X., Napolitano, S. & Cangialosi, D. Direct observation of desorption of a melt of long polymer chains. Nat Commun 11, 4354 (2020).https://www.nature.com/articles/s41467-020-18216-y


  本文介紹作者:南京大學(xué)研究生謝科鋒和陳詠萱

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