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清華大學(xué)張昊課題組《Nat. Commun.》: 實(shí)現(xiàn)MOFs普適性直接圖案化
2024-04-15  來源:高分子科技

  金屬有機(jī)框架(MOFs)以其化學(xué)和結(jié)構(gòu)多樣性而備受關(guān)注,已成為構(gòu)建微型固態(tài)器件的新興材料。例如,受益于獨(dú)特的多孔結(jié)構(gòu),MOFs展現(xiàn)出低介電常數(shù)和便捷離子傳導(dǎo)等優(yōu)異特性,有望用作集成電路導(dǎo)線間隙填充或構(gòu)建電致變色器件的重要材料。再如,將MOFs的選擇性吸附與光衍射、發(fā)光以及其他/電轉(zhuǎn)導(dǎo)機(jī)制相結(jié)合,也為新型化學(xué)和生物傳感光學(xué)器件構(gòu)建提供了更多可能。但是,MOF薄膜整合到上述器件中,特別是高度集成的微電子器件和納米光學(xué)器件,需要借助有效的圖案化方法。目前已發(fā)展MOFs圖案化方法存在諸多局限,如材料適用性受限、圖案分辨率低、可擴(kuò)展性差以及圖案化后MOFs性質(zhì)受損等問題。因此,亟需開發(fā)適用于MOFs的新的圖案化方法。


  鑒于此,清華大學(xué)張昊課題組開發(fā)了一種普適性的配體交聯(lián)誘導(dǎo)MOFs圖案化方法(crosslinking-induced patterning of MOFs),稱為CLIP-MOF。該方法基于配體交聯(lián)所導(dǎo)致的膠體MOFs溶解度的變化,在不需要光刻膠的條件下實(shí)現(xiàn)了MOFs微納尺度的直接光刻或電子束光刻。具體來說,CLIP-MOF以對紫外光和電子束敏感的雙疊氮基分子為交聯(lián)劑,使光/電子束照射區(qū)域的MOFs納米顆粒形成不溶于洗脫劑的交聯(lián)網(wǎng)絡(luò),進(jìn)而通過選擇性溶解未暴露區(qū)域的MOFs實(shí)現(xiàn)圖案化。該方法可在大面積、剛性或柔性基底上實(shí)現(xiàn)微米/納米尺度(最高精度約70 nm、適用于多MOFs圖案化。圖案化的MOFs薄膜保留了它們的結(jié)晶度、孔隙率和其他特性,并可用于構(gòu)建衍射光柵型氣體傳感器和像素化的電致變色器件等。CLIP-MOFMOFs在各種電子、光子和生物醫(yī)學(xué)設(shè)備中的系統(tǒng)級集成創(chuàng)造了更多的可能性。相關(guān)工作以Crosslinking-induced patterning of MOFs by direct photo- and electron-beam lithography發(fā)表在Nature Communications》。該工作的第一作者為清華大學(xué)化學(xué)系博士生田曉麗,通訊作者為清華大學(xué)化學(xué)系張昊副教授(課題組網(wǎng)頁,https://www.x-mol.com/groups/Zhang_hao?lang=en)。研究工作得到了清華大學(xué)化學(xué)系李景虹教授、中科院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所涂敏研究員的指導(dǎo)和幫助,并得到了國家重點(diǎn)研究計(jì)劃、自然科學(xué)基金、清華大學(xué)自主科研計(jì)劃交叉專項(xiàng)和篤實(shí)專項(xiàng)的資助。 


1. CLIP-MOF的化學(xué)機(jī)理和圖案化過程示意圖。


【圖案化化學(xué)機(jī)制】


  CLIP-MOF使用膠體MOF顆粒(NPs)作為不同種類MOFs的原料(圖1b)。將疊氮交聯(lián)劑分子加入MOFs膠體溶液后,旋涂得到均勻的薄膜樣品。光照或電子束輻射使疊氮交聯(lián)劑分子生成活潑的氮烯自由基,自由基隨后通過非特異性C–H插入反應(yīng)MOFs納米顆粒表面配體的烷基等官能團(tuán)反應(yīng),促使薄膜中相鄰的MOF NPs形成交聯(lián)網(wǎng)絡(luò)(圖1c)。光照或電子束輻射部分的MOF NPs難以溶于洗脫劑,從而可以在無需光刻膠的條件下,經(jīng)過經(jīng)典的光刻或電子束光刻過程實(shí)現(xiàn)MOFs的圖案化(圖1d。圖2中的表征結(jié)果證實(shí)了上述的化學(xué)過程。CLIP-MOF處理MOFs膠體顆粒形成大的交聯(lián)聚集體(圖2a,b。2c利用紅外光譜證實(shí)了光照過程中疊氮峰信號逐漸下降–N3不對稱和對稱振動峰位于約2100和約1250 cm-1處),表明交聯(lián)分子快速光解生成氮烯自由基。隨后,氮烯自由基通過非特異性C–H插入與MOF NPs配體反應(yīng),形成C–N鍵連接相鄰的MOFsXPS分析證實(shí)了C–N的形成(圖2d)。 


2. CLIP-MOF中潛在的配體交聯(lián)化學(xué)。


【微納米尺度光刻】 


3. ZIF-8@BrijC10的直接光刻。


 4. 多種MOFs的直接光刻。


  圖3展示了在剛性和柔性基底上制備微米尺度的ZIF-8圖案,包括字母、像素陣列和復(fù)雜圖案。所使用的ZIF-8 NPs表面為BrijC10配體(簡寫為ZIF-8@BrijC10)。電子能譜(EDS)確認(rèn)了微點(diǎn)圖案由交聯(lián)的ZIF-8組成,其中ZnF分別來自ZIF-8和交聯(lián)劑(圖3c)。放大的SEMAFM圖像顯示出致密MOFs圖案薄膜,表面粗糙度約為13 nm,與未圖案化的ZIF-8@BrijC10膜相似(圖3e, f)。此外,CLIP-MOF實(shí)現(xiàn)大面積基底(如4英寸硅片)的圖案化,如圖3g所展示的元素周期表圖案。CLIP-MOF也適用于任意基底(硅晶圓、玻璃、金屬、導(dǎo)電氧化物等),包括柔性可彎曲基底等(圖3h。


  CLIP-MOF普遍適用于具有不同成分、結(jié)構(gòu)、孔隙度和功能的各種MOFs。圖4a-d展示了四種代表性MOF NPs組成的圖案化薄膜,分別是ZIF-8@CTAB、ZIF-7@PEI、HKUST-1@OA/OLAMUiO-66@PAA。插圖中的EDS數(shù)據(jù)顯示了每種MOF中對應(yīng)的金屬元素。這些MOFs具有不同的材料特性,但在所有情況下都獲得了高保真度的像素陣列。進(jìn)一步地,CLIP-MOF克服了以往MOF圖案化方法僅能構(gòu)建含有1種或2MOFs的圖案的局限,實(shí)現(xiàn)了逐層、多材料MOFs圖案化(圖4e, f)。CLIP-MOF所展現(xiàn)出的材料普適性、高分辨率、高保真度、多材料圖案化和快速大批量制備等優(yōu)勢,使其超越了現(xiàn)有的MOFs圖案化方法,為構(gòu)建含有多組分MOFs化學(xué)/生物傳感和微電子/米光學(xué)器件提供了潛在的加工方法。


【圖案化MOFs的性質(zhì)和應(yīng)用展示】


  CLIP-MOF方法不會損害MOFs的固有性質(zhì),包括晶體結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)、孔隙度和配位鍵合。粉末X射線衍射數(shù)據(jù)證實(shí),圖案化后MOF NPs保持其晶體結(jié)構(gòu)和結(jié)晶度(圖5a-e)。對圖案化的ZIF-8@BrijC10ZIF-7@PEIUiO-66@PAA膜的XRD數(shù)據(jù)進(jìn)行Rietveld精修分析,測量數(shù)據(jù)與計(jì)算的衍射圖案相匹配,進(jìn)一步證實(shí)了晶體結(jié)構(gòu)的完整性(圖5f-h)。外,高分辨透射電子顯微鏡(HRTEM)分析的選區(qū)電子衍射(SAED)圖案提供了MOFs晶體性的微觀信息。圖5i, j顯示了原始和圖案化的ZIF-8@CTAB樣品的衍射斑點(diǎn),表明圖案化MOF NPs在微觀尺度上保持了結(jié)晶性。與此同時,圖案化前后MOF NPs氮?dú)馕摳角基本一致。例如,原始和圖案化的ZIF-8@CTAB NPsBET比表面積分別為1721.31660.3 cm2g-1。這些數(shù)值與報(bào)道的膠體ZIF-8 MOFs的數(shù)值相當(dāng)(900–1630 cm2g-1)。圖案化的MOFs也保留了它們的光學(xué)特性。含鑭系元素的MOFEu(BTC)@PVP)膜在圖案化后仍保持發(fā)光,并展示與原始樣品相同的發(fā)射特征。 


5. 圖案化MOF薄膜的結(jié)晶度和孔隙度。


 6. 圖案化薄膜的應(yīng)用實(shí)例。


  作為概念驗(yàn)證,作者制作了具有衍射陣列(總面積2.5 × 2.5 mm2;線寬5 μm;間距尺寸25 μm圖案的MOFs氣體光學(xué)傳感器。氣體傳感基于揮發(fā)性氣體分子吸附(例如,ZIF-8中的乙醇和丙酮)引起MOFs折射率變化,從而導(dǎo)致檢測到的一階衍射強(qiáng)度的變化。基于此原理,圖案化的MOFs衍射光柵傳感器可以監(jiān)測封閉環(huán)境中乙醇和丙酮蒸汽壓力的變化(圖6a-c)。作者還通過將負(fù)載了電致變色分子的MOFs顆粒圖案化,構(gòu)建了像素化電致變色器件(圖6d-f)。


【納米尺度光刻】 



  除了通過直接光刻技術(shù)進(jìn)行微米級圖案化之外,CLIP-MOF可以使用電子束光刻(EBL)技術(shù)進(jìn)行納米級圖案化。納米級圖案化對于將MOFs集成到納米光子學(xué)和微型化電子學(xué)中至關(guān)重要。圖7a展示了HKUST-1@OA/OLAM條紋圖案的SEM圖像。最小線寬約為70納米,與現(xiàn)有直接電子束光刻MOFs中實(shí)現(xiàn)的最高分辨率相當(dāng)。圖7b、c顯示MOF圖案薄膜厚約70納米。圖案化薄膜的表面粗糙度僅為約2.3納米。需要指出的是,CLIP-MOF中,電子束光刻圖案化基于配體交聯(lián)化學(xué)所導(dǎo)致的MOF NPs溶解性的變化,因此相比其他的MOFs電子束光刻圖案化方法需要極低的電子束劑量(50 μC cm-2)。


  綜上,該工作所提出的CLIP-MOF方法實(shí)現(xiàn)了對不同組成、結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的MOFs的高精度、高效率、大面積的直接光刻或電子束光刻圖案化。圖案化的MOF薄膜保持了MOFs原有的結(jié)構(gòu)和性質(zhì),適用于光學(xué)傳感、智能顯示等多種應(yīng)用。這一工作為MOF材料的圖案化和集成式器件構(gòu)建提供了更多的可能。


  原文鏈接:https://www.nature.com/articles/s41467-024-47293-6

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