?。?）油浸法測聚合物纖維的折射率
采用偏光顯微鏡觀測浸于油中的纖維，“浸油”是用阿貝折光儀已測得折光指數(shù)的油劑，變換不同折光指數(shù)的油劑浸泡纖維，用偏光顯微鏡來觀測，直至偏光顯微鏡目鏡中不再出現(xiàn)纖維和浸油界面因折射率不同而出現(xiàn)的黑線帶（稱貝克線）為止，這時(shí)浸油的折光指數(shù)就是纖維在某一個(gè)方向的折光指數(shù)（例稱為n││）。再旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)90度，如上方法測定纖維在垂直前一方向的折光指數(shù)（例稱為n┴）。如此，即可得到纖維狀聚合物在二個(gè)不同方向上的折光指數(shù)。（聚合物成纖時(shí)，纖維內(nèi)部高分子有取向產(chǎn)生，因此出現(xiàn)雙折射現(xiàn)象）。
?。?）聚合物電阻率（ρ）、電導(dǎo)率（σ）的測量
對高聚物的導(dǎo)電性能表征，常常需要分別表征表面導(dǎo)電性能和體積導(dǎo)電性能，即表面電阻率（ρs）（表面電導(dǎo)率σs），和體積電阻率ρv（體積電導(dǎo)率σv）。表征表面電導(dǎo)率的方法是：在聚合物試樣的同一表面，分別放入二個(gè)平行的刀形電極，并施以直流電壓，測出兩電極間的電壓U值和電流值（I），按下式計(jì)算試樣聚合物的表面電導(dǎo)率σs值，并可求出試樣的表面電導(dǎo)率 
 （單位為s.cm－1或西門子.cm－1）
σs為聚合物表面電導(dǎo)率，G為試樣電極間的電導(dǎo)
b為試樣上兩電極之間距離，L為電極寬度
電導(dǎo)率的倒數(shù)即為電阻率ρs（單位為Ω.cm或歐姆.cm）
表征體積電導(dǎo)率的方法是：在聚合物試樣的兩個(gè)對應(yīng)側(cè)面，各放一個(gè)片狀電極，并施以直流電壓，測出上、下兩電極間的電壓U值和電路電流I值，按下式計(jì)算聚合物試樣的體積電導(dǎo)率σs值，并可進(jìn)一步求出試樣的體積電阻率ρv值。
 （單位為s.cm－1）
σv為聚合物體積電導(dǎo)率
d為聚合物試樣上、下兩平面間的距離（厚度）
s為試樣上電極的面積
電導(dǎo)率的倒數(shù)，即為聚合物的體積電導(dǎo)率ρv（單位Ω.cm）
說明
1、當(dāng)聚合物電阻值很大時(shí)，要用高阻計(jì)進(jìn)行測量
2、當(dāng)聚合物樣品很小，且?guī)щ娏Ｗ忧闆r復(fù)雜時(shí)（帶電粒子是電子、離子、空穴等）要用共線四探針法或方形四探針法來測量樣品的電阻率、電導(dǎo)率
（3）聚合物介電常數(shù)（ε）和介電損耗ε＂的表征
用Wiltron37217A型矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，對聚合物按制樣要求，制成一定尺寸的薄板樣品，放于儀器中兩個(gè)空腔諧振器的中央，使試樣所處位置在微波磁場為零，而微波電場最大處。對諧振腔用微波進(jìn)行激勵(lì)，通過擾動(dòng)后諧振器頻率向低頻側(cè)移動(dòng)的變化量及無載品質(zhì)因素Q值的變化，借助計(jì)算機(jī)軟件，計(jì)算出聚合物樣品的復(fù)數(shù)介電常數(shù)值ε，其中ε＝ε＇＋jε＂為聚合物的實(shí)數(shù)介電常數(shù)，ε＂為聚合物的虛數(shù)介電常數(shù)值，即介電損耗值。
?。?）聚合物磁性介質(zhì)性能的表征（導(dǎo)磁率μ，μ＇和磁損耗μ＂的表征）
用Wiltron37217A型矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，將聚合物按制樣要求，制成一定尺寸的薄板樣品，放于儀器中兩個(gè)空腔諧振器的中央，使試樣所處位置在微波電場為零，而微波磁場最大處。對諧振腔用微波進(jìn)行激勵(lì)，通過擾動(dòng)前后諧振器頻率向低頻側(cè)移動(dòng)的變化量及無載品質(zhì)因素Q值的變化，借助計(jì)算機(jī)軟件，計(jì)算出聚合物樣品的復(fù)數(shù)導(dǎo)磁率μ。其中μ＝μ＇＋jμ＂
μ＇為聚合物樣品的實(shí)數(shù)導(dǎo)磁率（通常的“導(dǎo)磁率”）
μ＂為聚合物樣品的虛數(shù)導(dǎo)磁率，即磁損耗
（5）聚合物磁性的表征
用振動(dòng)樣品強(qiáng)磁計(jì)（VSM）可測聚合物在磁場下的磁滯曲線，根據(jù)磁滯曲線的形狀，可判斷聚合物具有的磁性質(zhì)（硬磁、軟磁、順磁性、鐵磁性等）
（6）磁力顯微鏡（MFM）表征磁性聚合物表面的空間磁場尺寸的分布
磁力顯微鏡是原子力顯微鏡的一個(gè)變種，它和原子力顯微鏡（AFM）的不同之處僅在于在探針針尖上包裹了一層鐵磁性材料，當(dāng)這種探針針尖離被測試樣表面（截面）很近時(shí)，針尖和樣品間的作用力是范德華力，這樣得到的針尖掃描圖像是樣品表面（截面）的立體形貌圖。而當(dāng)針尖離樣品表面（截面）稍遠(yuǎn)，超出范德華力的作用范圍而處在磁力作用范圍之內(nèi)時(shí)，這時(shí)針尖掃描得到的圖像是樣品表面（截面）空間磁場（磁疇?）的分布圖像。由此圖像我們可以測出樣品表面磁場的空間尺寸（磁疇的尺寸?）
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