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| 資料類型： |
JPG圖片格式
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高分子表征 石英晶體微天平 表面等離子體共振 固-液界面 高分子刷 |
| 資料大?。?/td>
| 98KB |
| 所屬學科： |
高分子物理 |
| 來源： |
來源網(wǎng)絡 |
| 簡介： |
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界面上高分子的構(gòu)象行為對于界面的物理和化學性質(zhì)至關重要。目前，對于高分子在界面上的構(gòu)象行為特別是動態(tài)行為的表征仍面臨許多挑戰(zhàn)。本文中，作者利用帶有耗散測量功能的石英晶體微天平（QCM-D）和表面等離子體共振儀（SPR）等界面表征手段，對固體表面接枝中性高分子鏈、聚電解質(zhì)鏈及兩性聚電解質(zhì)鏈的構(gòu)象行為進行了系統(tǒng)研究。研究結(jié)果表明，QCM-D 的頻率變化反映接枝高分子鏈的質(zhì)量變化或接枝高分子層的厚度變化，而耗散因子變化則反映接枝高分子鏈的結(jié)構(gòu)變化。SPR 共振單元變化與接枝高分子層的厚度和折光指數(shù)密切相關。此外，研究結(jié)果還表明，通過改變外界條件，如溫度、溶劑、離子強度及離子種類等，可以調(diào)節(jié)高分子在界面上的構(gòu)象行為，從而控制界面性質(zhì)。 |
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| 上傳人： |
liuyh
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| 上傳時間： |
2013-11-20 17:07:45 |
| 下載次數(shù)： |
0 |
| 消耗積分： |
2
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