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  電容器作為一種能夠存儲(chǔ)電荷的“容器”，能夠通過對電荷的快速存儲(chǔ)和釋放，調(diào)節(jié)電子電路和電力系統(tǒng)中信息和能量的流動(dòng)。聚合物電介質(zhì)因具有高絕緣強(qiáng)度，低成本，易加工性，低損耗和良好的自愈特性等優(yōu)點(diǎn)，成為了電容器電介質(zhì)的重要組成部分。近年來，聚合物基電介質(zhì)的損耗抑制受到國內(nèi)外學(xué)者的廣泛關(guān)注，相關(guān)研究方興未艾。電介質(zhì)材料的損耗不僅為薄膜電容器的效率設(shè)定了理論上限，而且產(chǎn)生的熱量對電氣裝置的熱管理系統(tǒng)提出了嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。因此，聚合物基電介質(zhì)材料的損耗抑制研究具有重要的理論意義和應(yīng)用價(jià)值。

圖1.電場-電極化曲線和測量過程中的電荷組成示意圖

圖2. 損耗抑制研究示意圖。內(nèi)圓表示介質(zhì)損耗的組成部分：極化損耗和電導(dǎo)損耗；中間圓環(huán)為抑制損耗的材料分類；最外層為損耗抑制研究的機(jī)遇和挑戰(zhàn)

  原文鏈接：https://doi.org/10.1002/adma.202203623