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> CdZnTe晶體(111)面、(110)面和(100)面的蝕坑形貌觀察
CdZnTe晶體(111)面、(110)面和(100)面的蝕坑形貌觀察
CdZnTe晶體(111)面、(110)面和(100)面的蝕坑形貌觀察
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晶體生長(zhǎng)
蝕坑密度
布里奇曼法
晶體定向
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利用CdZnTe晶體晶面夾角之間的關(guān)系采用激光正反射法對(duì)改進(jìn)布里奇曼法生長(zhǎng)的CdZnTe單晶進(jìn)行定向,研磨出了CdZnTe單晶體的(111)、(100)面。采用自行研制的HHKA腐蝕液對(duì)三個(gè)面進(jìn)行擇優(yōu)腐蝕,得到了(111)、(100)和(110)面的腐蝕照片,并計(jì)算出了蝕坑密度(EPD)約為104~105/cm2數(shù)量級(jí)。結(jié)果表明生長(zhǎng)晶體的質(zhì)量較好。
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2007-07-06 13:35:45
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zhengsir2005
2009-03-20 13:43:28
very good
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