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清華大學(xué)李琦課題組《Adv. Mater.》: 量子尺寸效應(yīng)大幅提升介電高分子/無機(jī)團(tuán)簇復(fù)合材料高溫儲(chǔ)能性能
2023-04-26  來源:高分子科技

  隨著第三代半導(dǎo)體功率器件的迅速發(fā)展,電力及電子系統(tǒng)被要求在更高溫度下運(yùn)行。然而,基于現(xiàn)有商用聚合物薄膜(如雙向拉伸聚丙烯,BOPP)的介質(zhì)儲(chǔ)能電容器僅能在105 °C以下工作,遠(yuǎn)遠(yuǎn)無法滿足需求。研究表明,高溫下聚合物電介質(zhì)性能的劣化是由于其電導(dǎo)率隨溫度與電場的提高呈指數(shù)上升,從而產(chǎn)生大量熱損耗并最終導(dǎo)致器件的熱失控。構(gòu)建聚合物納米復(fù)合電介質(zhì)被證實(shí)是一種抑制電荷載流子的注入和輸運(yùn)以減少電導(dǎo)損耗行之有效的策略。各種納米尺寸填料(如氮化硼納米片、Al2O3MgOHfO2等)已被證明能夠在150 °C下顯著提高復(fù)合電介質(zhì)的儲(chǔ)能密度和效率。然而,在更高溫度(如200 °C)下,基于常規(guī)納米顆粒的復(fù)合材料的儲(chǔ)能效率顯著下降,不能滿足應(yīng)用需求。


  針對(duì)上述問題,清華大學(xué)李琦課題組借助量子尺寸效應(yīng),利用無機(jī)金屬氧化物能帶結(jié)構(gòu)的尺寸依賴性,成功制備了在200 °C下具有高效率(≥95%)和高儲(chǔ)能密度(6.8 J cm-3)的聚合物/無機(jī)團(tuán)簇復(fù)合電介質(zhì)。通常,納米填料的能帶隙越大,其本身的電性能越好。同時(shí),具有點(diǎn)缺陷等局域態(tài)的填料可以向復(fù)合電介質(zhì)中引入陷阱阻礙載流子輸運(yùn),且陷阱深度由導(dǎo)帶底和局域態(tài)能級(jí)之差決定。量子尺寸效應(yīng)表明,隨著金屬氧化物半徑的減小,其能帶隙將變大,即導(dǎo)帶底能級(jí)上升且價(jià)帶頂能級(jí)下降。而由局域化學(xué)環(huán)境決定的點(diǎn)缺陷能級(jí),如懸掛鍵、氧空位等,卻基本不變。因此相比傳統(tǒng)無機(jī)納米粒子,聚合物/無機(jī)團(tuán)簇復(fù)合電介質(zhì)中直徑2.2 nm金屬氧化物團(tuán)簇一方面具備更高的能帶隙,自身擁有更強(qiáng)的電性能;另一方面,又引入了更深更多的陷阱,有利于其在高溫高電場下捕獲載流子,抑制泄漏電流。得益于小尺寸對(duì)無機(jī)團(tuán)簇能帶結(jié)構(gòu)的優(yōu)化,所制備的聚合物/無機(jī)團(tuán)簇復(fù)合電介質(zhì)在高溫下表現(xiàn)出了目前最佳的儲(chǔ)能效率和儲(chǔ)能密度。 


1. 聚合物/無機(jī)團(tuán)簇復(fù)合電介質(zhì)的制備路線和表征(a) 一種基于位點(diǎn)隔離策略的共聚合制備路線。(b) PEAA-O-AOCPEI-O-AOCFT-IR光譜。(c) PEI-OHPEI-O-AOC的固態(tài)13C NMR


  實(shí)現(xiàn)利用量子尺寸效應(yīng)對(duì)無機(jī)填料能帶結(jié)構(gòu)調(diào)控的難點(diǎn)在于如何抑制超小尺寸無機(jī)團(tuán)簇的生長以及如何克服團(tuán)簇在高表面能驅(qū)動(dòng)下的團(tuán)聚。研究團(tuán)隊(duì)采用了位點(diǎn)隔離策略(如圖1a所示),將金屬醇鹽(金屬氧化物前驅(qū)體)與聚合物單體通過一鍋法共聚合,控制金屬氧化物形成均勻分散的2.2 nm直徑超小團(tuán)簇。具體而言,聚合物相前驅(qū)體聚醚酰胺酸(PEAA-OH)側(cè)鏈上豐富的羧基可以與仲丁醇鋁反應(yīng)以錨定剛剛生成的氧化鋁團(tuán)簇(AOC)。此時(shí),聚合物相成為了無機(jī)團(tuán)簇間的隔離介質(zhì),并使其均勻分散。在后續(xù)的熱熱亞胺化及熱退火過程中,得益于聚醚酰亞胺(PEI-OH)的高玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,AOC被鎖定在原位而難以在復(fù)合電介質(zhì)(PEI-O-AOC)中團(tuán)聚。同時(shí),低含量仲丁醇鋁的加入也并不影響PEI的生成(如圖1b,c所示)。 


2. PEI-O-AOC的形貌、組成性能。(a) PEI-O-AOC透射電鏡下的形貌。(b) 通過SAXS測試得到氧化鋁團(tuán)簇(AOC的尺寸分布。(c) 對(duì)PEI-OH、PEI-O-AOCPEI-OH/Al2O3-NPDSC測試。(d) PEI-OH、PEI-O-AOCPEI-OH/Al2O3-NPXPS Al2p譜。(e) PEI-OH、PEI-O-AOCPEI-OH/Al2O3-NPXRD測試。


  研究團(tuán)隊(duì)采用高分辨率TEM和小角X射線散射(SAXS)共同確定團(tuán)簇在PEI-O-AOC中的尺寸。圖2a顯示了高分辨率下AOC的形貌,AOC展現(xiàn)出明確的不同于聚合物相的晶格條紋。而圖2b則揭示了復(fù)合電介質(zhì)薄膜中AOC的整體尺寸分布。AOC的最大概率直徑為2.2 nm,并且超過85%的團(tuán)簇直徑小于5 nm。同時(shí),SAXS測試結(jié)果表明AOC的分散是均勻的。在位點(diǎn)隔離策略之外,研究團(tuán)隊(duì)還利用端羥基實(shí)現(xiàn)PEI-OHAOC的部分交聯(lián)以進(jìn)一步提高PEI-O-AOC的熱性能。從圖2c-e中可以看到,相比純聚合物PEI-OH和使用傳統(tǒng)氧化鋁填料制備的PEI-OH/Al2O3-NP,PEI-O-AOC表現(xiàn)出更高的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、相比傳統(tǒng)納米粒子偏移的XPS Al2p峰值和更小的鏈間距。這證明了PEI-OHAOC間的部分交聯(lián)結(jié)構(gòu)。 


3. PEI-O-AOC的電性能和高溫儲(chǔ)能性能。(a) 200 °C,PEI-OHPEI-O-AOCPEI-OH/Al2O3-NP的泄漏電流密度隨外加電場的變化。(b) PEI-O-AOC在不同溫度下的泄漏電流。(c) PEI-OH、PEI-O-AOCPEI-OH/Al2O3-NP200℃的擊穿強(qiáng)度。(d) 200 ℃100 Hz下,PEI-OH、PEI-O-AOCPEI-OH/Al2O3-NP高溫儲(chǔ)能性能。(e) PEI-OHPEI-O-AOCPEI-OH/Al2O3-NP高溫儲(chǔ)能性能隨頻率的變化。(f) PEI-O-AOC與目前先進(jìn)高溫介質(zhì)材料200 °C下儲(chǔ)能密度和儲(chǔ)能效率的比較。


  研究測試并分析了PEI-O-AOC200°C下的泄漏電流。在低電場下,PEI-O-AOC的導(dǎo)電以跳躍電導(dǎo)(Hopping conduction)機(jī)制為主;而在高電場下,其導(dǎo)電機(jī)制轉(zhuǎn)換為Poole-Frankel發(fā)射(P-F發(fā)射)。圖3b中,兩種電導(dǎo)機(jī)制的轉(zhuǎn)換電場呈現(xiàn)出明顯的溫度依賴性,這與P-F發(fā)射的熱離子機(jī)制相一致。在P-F發(fā)射中,載流子可以通過熱離子機(jī)制克服陷阱勢壘。因此,從跳躍電導(dǎo)到P-F發(fā)射機(jī)制的轉(zhuǎn)變表明隨溫度和電場強(qiáng)度的上升,載流子可以獲得足夠的能量來越過陷阱勢壘。得益于被抑制的泄電流,PEI-O-AOC表現(xiàn)出遠(yuǎn)超PEI-OHPEI-OH/Al2O3-NP的擊穿強(qiáng)度和高溫儲(chǔ)能性能。在200 °C下,PEI-O-AOC兼具高效率(≥95%)和高儲(chǔ)能密度(6.8 J cm-3)。同時(shí),其頻率穩(wěn)定性也大大提高,在400 MV m-1200 °C下,其儲(chǔ)能效率在1 Hz下仍高達(dá)90%200 °C下的綜合儲(chǔ)能性能超過目前所有已報(bào)道的先進(jìn)電介質(zhì)材料。 


4. 利用能帶和陷阱理論分析PEI-O-AOC的性能優(yōu)化機(jī)制(a) 模擬了不同尺寸γ-Al2O3的帶隙。(b) 通過紫外可見光譜測定PEI-OH、PEI-O-AOCPEI-OH/Al2O3-NP的光學(xué)帶隙。(c) 利用P-F發(fā)射機(jī)制下Arrhenius圖計(jì)算PEI-O-AOC中的陷阱深度。(d) 量子尺寸效應(yīng)調(diào)制的能帶結(jié)構(gòu)和陷阱深度示意圖。


  最后,研究探討了利用量子尺寸效應(yīng)實(shí)現(xiàn)高溫儲(chǔ)能密度和儲(chǔ)能效率巨大提升的物理機(jī)制。圖4a計(jì)算了不同尺寸下γ-Al2O3粒子的帶隙。在小尺寸下,粒子的帶隙迅速上升。這顯示了AOC自身的電性能優(yōu)勢。研究測試了PEI-OH、PEI-OH/Al2O3-NPPEI-O-AOC的紫外可見光譜。結(jié)果表明,聚合物的帶隙基本保持不變,但PEI-O-AOC顯示出更平緩的吸收邊。這表明PEI-O-AOC可能存在更豐富的陷阱態(tài)。基于P-F發(fā)射機(jī)制的Arrhenius圖證實(shí)了這一點(diǎn),并且顯示PEI-O-AOC中存在深度為1.60 eV的深陷阱。量子尺寸效應(yīng)對(duì)陷阱的調(diào)控可以從以下兩個(gè)方面理解。首先,小尺寸團(tuán)簇相比納米粒子具有更高的比表面積。由此,表面缺陷,如懸掛鍵和氧空位的密度將大大提高,并最終作為載流子深陷阱存在于PEI-O-AOC中。其次,帶隙增大的實(shí)質(zhì)是導(dǎo)帶底的增大和價(jià)帶頂?shù)臏p小。與此同時(shí),陷阱能級(jí)卻不像導(dǎo)帶底那樣隨尺寸明顯變化。因此,由導(dǎo)帶底與陷阱能級(jí)之差定義的陷阱深度自然會(huì)隨著尺寸的減小而增大(如圖4d所示)。


  所得到的聚合物/無機(jī)團(tuán)簇復(fù)合電介質(zhì)不僅該研究不僅兼具極高高溫儲(chǔ)能密度和儲(chǔ)能效率,其制備過程還十分簡便,與現(xiàn)有聚合物合成流程高度兼容,省去了傳統(tǒng)納米復(fù)合方法所需的超聲分散等步驟。研究不僅利用量子尺寸效應(yīng)顯著提升了復(fù)合電介質(zhì)在高溫下的儲(chǔ)能性能,還拓展了對(duì)金屬氧化物能帶結(jié)構(gòu)和陷阱的認(rèn)識(shí),為高溫復(fù)合電介質(zhì)的開發(fā)提供了新思路。


  相關(guān)研究成果以Quantum size effect to induce colossal high-temperature energy storage density and efficiency in polymer/inorganic cluster composites為題發(fā)表在《Advanced Materials》。論文第一作者是清華大學(xué)博士生楊明聰,通訊作者為清華大學(xué)李琦副教授。該研究工作得到了國家自然科學(xué)基金的支持。


  論文鏈接:https://doi.org/10.1002/adma.202301936

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